申请/专利权人:瑞茂光学(深圳)有限公司
申请日:2020-06-29
公开(公告)日:2021-01-12
公开(公告)号:CN212341051U
主分类号:G01N23/04(20180101)
分类号:G01N23/04(20180101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2021.01.12#授权
摘要:本申请涉及一种X‑RAY检测系统,其包括柜体、设置于柜体内的X光机及拍摄图像的探测器,X光机位于探测器的下方,柜体贯穿有与其内腔连提供的取料孔,所述柜体内设置有放置工件的承载机构,所述承载机构包括连接于柜体的支架及与支架转动连接的承载板,工件放置于所述承载板上端,所述承载机构设置于X光机及探测器之间。在对工件检测时,将承载板的一端向上转动,此时位于中间的走线层不易被位于外侧的走线层遮挡,从而提升检测的结果。
主权项:1.一种X-RAY检测系统,其特征在于:包括柜体1、设置于柜体(1)内的X光机2及拍摄图像的探测器(21),X光机2位于探测器(21)的下方,柜体1贯穿有与其内腔连提供的取料孔11,所述柜体1内设置有放置工件的承载机构4,所述承载机构4包括连接于柜体1的支架41及与支架41转动连接的承载板42,工件放置于所述承载板42上端,所述承载机构4设置于X光机2及探测器(21)之间。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 瑞茂光学(深圳)有限公司 一种X-RAY检测系统
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