申请/专利权人：润昇系统测试(深圳)有限公司

申请日：2020-11-06

公开（公告）日：2021-02-19

公开（公告）号：CN112382333A

主分类号：G11C29/56(20060101)

分类号：G11C29/56(20060101);G11C29/18(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.03.09#实质审查的生效;2021.02.19#公开

摘要：本发明提供一种内存测试装置以及内存测试方法。内存测试装置包括测试板、主板以及处理器。测试板搭载至少一待测内存芯片。主板具有多个内存插槽。至少一内存模块以及测试板分别被插在所述多个内存插槽中，以使所述多个内存插槽呈现满载状况。处理器被设置在主板上。处理器关闭交错访问模式以进入依序访问模式，确定测试板的测试地址范围，并且基于测试板的测试地址范围对至少一待测内存进行测试。

主权项：1.一种内存测试装置，其特征在于，所述内存测试装置包括：测试板，经配置以搭载至少一待测内存芯片；主板，具有多个内存插槽，其中至少一内存模块以及所述测试板分别被插在所述多个内存插槽中，以使所述多个内存插槽呈现满载状况；以及处理器，被设置在所述主板上，经配置以：关闭交错访问模式以进入依序访问模式，确定所述测试板的测试地址范围，并且基于所述测试板的测试地址范围对至少一待测内存芯片进行测试，以获得对应于所述至少一待测内存芯片的第一测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 润昇系统测试(深圳)有限公司 内存测试装置以及内存测试方法

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