【发明公布】内存测试装置以及测试电压调整方法_润昇系统测试(深圳)有限公司_202011230109.6 

申请/专利权人：润昇系统测试(深圳)有限公司

申请日：2020-11-06

发明/设计人：周少东;陈世兴;颜振亮;姜文贵

公开（公告）日：2021-02-19

代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司

公开（公告）号：CN112382328A

代理人：何冲

主分类号：G11C29/02(20060101)

地址：518101 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区红牌工业园华丰智谷福海科技产业园B栋B116

分类号：G11C29/02(20060101);G11C29/50(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2021.02.19#公开

摘要：本发明提供一种内存测试装置以及测试电压调整方法。内存测试装置用以对至少一待测内存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、至少一测试板以及至少一检测器。主机提供测试流程；所述至少一测试板基于测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试；各所述至少一检测器接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于测试流程的测试电压，依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息；主机依据电压偏移信息调整测试流程，使对应测试板依据经调整的测试流程调整测试电压。

主权项：1.一种内存测试装置，用以对至少一待测内存模块进行测试，其特征在于，所述内存测试装置包括：主机，经配置以提供测试流程；至少一测试板，分别耦接于所述主机，经配置以基于所述测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试；以及至少一检测器，耦接于所述主机，并以一对一方式与所述至少一测试板对应耦接，其中各所述至少一检测器经配置以接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于所述测试流程的测试电压，并且依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息，其中所述主机依据所述电压偏移信息，提供用以调整所述测试流程的电压设定值，以提供经调整的测试流程，使得所述对应测试板依据所述经调整的测试流程来设定所述测试电压。

全文数据：

权利要求：

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