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【发明公布】驱动电路的驱动端口状态检测电路及方法_苏州美思迪赛半导体技术有限公司_202011295445.9 

申请/专利权人:苏州美思迪赛半导体技术有限公司

申请日:2020-11-18

公开(公告)日:2021-02-19

公开(公告)号:CN112379204A

主分类号:G01R31/00(20060101)

分类号:G01R31/00(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.03.09#实质审查的生效;2021.02.19#公开

摘要:本发明公开了一种驱动端口状态检测电路及方法,包括驱动电路,延时模块和采样电路;采样电路包括开关管、采样管和采样电容;开关管接入驱动电路驱动端,在开关管与驱动管之间由延时模块引入驱动信号的固定延时,开关管提前固定延时导通形成电容串联分压支路;电容串联结构包括串联结构的采样电容和驱动端寄生电容,在固定延时的时间内,电容串联结构利用小电流对串联结构的采样电容和寄生电容进行充电,并对驱动电路的驱动端口状态进行采样。本发明对驱动电路的驱动端口状态进行采样,通过判断采样电容上电压结果判断驱动端口的工作状态,由于引入相对独立的采样判断时间并使用电容器件进行采样,采样信号稳定且不易受到干扰,大大提高了检测结果的精确性,确保判断结果准确可靠。

主权项:1.一种驱动端口状态检测电路,其特征在于:包括驱动电路、采样电路和延时模块;所述驱动电路包括驱动管;所述采样电路包括开关管和电容串联结构,所述开关管接入驱动电路的驱动端口,在开关管与驱动管之间设有延时模块,所述延时模块引入驱动信号的固定延时,开关管提前固定延时时间导通后形成电容串联结构;所述电容串联结构包括串联结构的采样电容和驱动端口的寄生电容,在固定延时的时间内,电容串联结构利用小电流对采样电容和寄生电容进行充电,对驱动电路的驱动端状态进行采样。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州美思迪赛半导体技术有限公司 驱动电路的驱动端口状态检测电路及方法

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