申请/专利权人：京元电子股份有限公司

申请日：2019-08-15

公开（公告）日：2021-02-23

公开（公告）号：CN112394030A

主分类号：G01N21/01(20060101)

分类号：G01N21/01(20060101);G01N21/892(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.03.12#实质审查的生效;2021.02.23#公开

摘要：本发明提供了一种IC芯片外观检验模块，包括：一机台、两个光学式IC检验座、一成像模块及一驱动装置。该机台具有一输送单元，该两个光学式IC检验座呈相对应设置于该机台上，该成像模块设置于该机台上；该驱动装置连接该两个光学式IC检验座，从而依据该IC芯片的尺寸而调整该两个光学式IC检验座的间距。因此，本发明通过可调式光学式IC检验座，可依据不同IC芯片尺寸，快速调整两个光学式IC检验座的间距，且整体机台因具有可调式的光学式IC检验座，可减少光学式IC检验座因不同的IC芯片尺寸需重新采购与更换的费用，降低开发装置的成本。

主权项：1.一种IC芯片外观检验模块，用以外观检验一IC芯片，包括：一机台，具有一输送单元；两个光学式IC检验座，呈相对应设置于该机台上；一成像模块，设置于该机台上；以及一驱动装置，连接该两个光学式IC检验座，从而依据该IC芯片的尺寸而调整该两个光学式IC检验座的间距。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 京元电子股份有限公司 IC芯片外观检验模块

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