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【发明公布】X光分析用试料保持装置_株式会社理学_202010804679.5 

申请/专利权人:株式会社理学

申请日:2020-08-12

公开(公告)日:2021-02-23

公开(公告)号:CN112394074A

主分类号:G01N23/20025(20180101)

分类号:G01N23/20025(20180101);G01N23/2204(20180101)

优先权:["20190816 JP 2019-149383"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.09.10#实质审查的生效;2021.02.23#公开

摘要:本发明提供一种X光分析用试料保持装置,该X光分析用试料保持装置将填充有试料的试料支架10保持于基体构件20,并以包覆试料支架10的周围的方式向基体构件20装配气密构件30,由此形成密闭空间内的试料保持结构。在气密构件30形成有向装配部21嵌入并而被装配的嵌合部35。

主权项:1.一种X光分析用试料保持装置,所述X光分析用试料保持装置具备:试料支架,所述试料支架具有用于填充试料的试料填充部;基体构件,所述基体构件用于保持该试料支架;以及气密构件,所述气密构件拆装自如地向所述基体构件装配以包覆被保持于该基体构件的所述试料支架的周围,所述X光分析用试料保持装置的特征在于,在所述基体构件形成有用于装配所述气密构件的装配部,在所述气密构件形成有向所述装配部嵌入而被装配的嵌合部,并且,在所述装配部与嵌合部的相互之间设有锁定机构,在将该嵌合部向该装配部嵌入的过程中,该锁定机构卡合而阻止所述气密构件从所述基体构件脱离。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 株式会社理学 X光分析用试料保持装置

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