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【发明公布】基于图像检测的钻孔缺陷检测方法及钻孔缺陷检测设备_深圳宜美智科技股份有限公司_202110094946.9 

申请/专利权人:深圳宜美智科技股份有限公司

申请日:2021-01-25

公开(公告)日:2021-02-26

公开(公告)号:CN112414945A

主分类号:G01N21/01(20060101)

分类号:G01N21/01(20060101);G01N21/954(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.04.06#授权;2021.03.16#实质审查的生效;2021.02.26#公开

摘要:本发明提供一种基于图像检测的钻孔缺陷检测方法,该检测方法包括:使用第一摄像头拍摄PCB钻孔,以获取PCB钻孔的正投影图像;使用第二摄像头拍摄所述PCB钻孔,以获取PCB钻孔的侧投影图像;根据正投影顶孔图像和侧投影顶孔图像的图像平滑度,确定PCB钻孔的顶孔表面缺陷;根据正投影底孔图像和侧投影底孔图像的图像平滑度,确定PCB钻孔的底孔表面缺陷;根据正投影底孔图像和侧投影底孔图像的图像偏移度,确定PCB钻孔的底孔深度缺陷。本发明还提供一种钻孔缺陷检测装置实现对PCB板材的沉头孔进行有效钻孔缺陷检测。

主权项:1.一种基于图像检测的钻孔缺陷检测方法,设置在对应的PCB板材缺陷检测设备上,用于对PCB板材上的沉头孔进行缺陷检测,其中所述沉头孔包括位于下部的底孔以及位于上部的顶孔;其特征在于,所述PCB板材缺陷检测设备包括:传输平台,包括一检测位;第一摄像头,位于所述检测位的上方,用于拍摄PCB钻孔的正投影图像;第二摄像头,相对水平位倾斜活动设置于所述检测位的第一侧,用于拍摄所述PCB钻孔的侧投影图像;其中所述第二摄像头包括位于所述检测位的第一侧的至少一个拍摄位;背光源,设置在所述检测位的下方,用于向所述第一摄像头提供PCB钻孔中的底孔照射光源;第一侧光源,设置在所述检测位的第二侧,用于向所述第一摄像头提供漫反射光源以及向所述第二摄像头提供镜面反射光源;第二侧光源,设置在所述检测位的第一侧以及所述第二摄像头的下方,用于向所述第一摄像头和所述第二摄像头提供漫反射光源;顶光灯,设置在所述第一侧光源的上方,用于向所述第一摄像头提供镜面反射光源;半反半透镜,设置在所述检测位和所述第一摄像头之间,用于反射所述顶光灯的入射光,以形成所述第一摄像头的镜面反射光源;以及图像处理模块,分别与所述第一摄像头和所述第二摄像头连接,用于进行钻孔缺陷检测;所述钻孔缺陷检测方法包括:S1、所述图像处理模块使用所述第一摄像头拍摄所述PCB钻孔,以获取所述PCB钻孔的正投影图像,其中所述正投影图像包括正投影底孔图像以及正投影顶孔图像;S2、所述图像处理模块使用所述第二摄像头拍摄所述PCB钻孔,以获取所述PCB钻孔的侧投影图像,其中所述侧投影图像包括侧投影底孔图像以及侧投影顶孔图像;S3、所述图像处理模块根据所述正投影顶孔图像和所述侧投影顶孔图像的图像平滑度,确定所述PCB钻孔的顶孔表面缺陷;S4、所述图像处理模块根据所述正投影底孔图像和所述侧投影底孔图像的图像平滑度,确定所述PCB钻孔的底孔表面缺陷;S5、所述图像处理模块根据所述正投影底孔图像和所述侧投影底孔图像的图像偏移度,确定所述PCB钻孔的底孔深度缺陷;S6、所述图像处理模块切换所述第二摄像头的拍摄位,返回步骤S2直至所述第二摄像头的所有拍摄位切换完毕。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳宜美智科技股份有限公司 基于图像检测的钻孔缺陷检测方法及钻孔缺陷检测设备

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