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【发明公布】一种铜箔缺陷检测系统_上海圣之尧智能科技有限公司_202011237348.4 

申请/专利权人:上海圣之尧智能科技有限公司

申请日:2020-11-09

公开(公告)日:2021-02-26

公开(公告)号:CN112415013A

主分类号:G01N21/88(20060101)

分类号:G01N21/88(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.03.16#实质审查的生效;2021.02.26#公开

摘要:本发明公开了一种铜箔缺陷检测系统,包括:采集模块,用于采集获得一与待测铜箔对应的初始图像;处理模块,对所述初始图像进行图像预处理获得一标准初始图像;匹配模块,于所述标准初始图像进行轮廓匹配获得所述待测铜箔的检测图像;对比模块,基于所述检测图像与一标准铜箔图像的差异系数大于一门限值,生成一与该待测铜箔相关联的缺陷标签,能够提取待测铜箔的检测图像,并且将该检测图像与标准铜箔图像进行对比,对比过程中,以检测图像的像素单元为最小对比单元,从而能够提高对比速度,实现在较短的时间内完成对该两侧铜箔的检测。

主权项:1.一种铜箔缺陷检测系统,其特征在于,包括:采集模块,用于采集获得一与待测铜箔对应的初始图像;处理模块,对所述初始图像进行图像预处理获得一标准初始图像;匹配模块,于所述标准初始图像进行轮廓匹配获得所述待测铜箔的检测图像;对比模块,基于所述检测图像与一标准铜箔图像的差异系数大于一门限值,生成一与该待测铜箔相关联的缺陷标签。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海圣之尧智能科技有限公司 一种铜箔缺陷检测系统

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