申请/专利权人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司

申请日：2020-11-09

公开（公告）日：2021-02-26

公开（公告）号：CN112419946A

主分类号：G09G3/00(20060101)

分类号：G09G3/00(20060101);G06F11/22(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.06.10#授权;2021.03.16#实质审查的生效;2021.02.26#公开

摘要：本申请提供一种检测电路、显示面板及检测方法，该检测电路包括：多个薄膜晶体管；第一金属线，该第一金属线与所有的薄膜晶体管连接；多条第二金属线，每一条第二金属线与一个薄膜晶体管连接；第三金属线，该第三金属线与所有的第二金属线连接，第二金属线的延展性小于第一金属线和第三金属线的延展性，本申请所提供的检测电路可提高对显示屏是否碎裂进行检测的精准度。

主权项：1.一种检测电路，应用于显示面板，其特征在于，包括：多个薄膜晶体管；第一金属线，所述第一金属线与所有的薄膜晶体管连接；多条第二金属线，每一条所述第二金属线与一个所述薄膜晶体管连接；和第三金属线，所述第三金属线与所有的第二金属线连接，所述第二金属线的延展性小于所述第一金属线和所述第三金属线的延展性。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 检测电路、显示面板及检测方法

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