申请/专利权人：杭州迪普科技股份有限公司

申请日：2020-06-04

公开（公告）日：2021-02-26

公开（公告）号：CN212622693U

主分类号：G01R1/04(20060101)

分类号：G01R1/04(20060101);G01R31/00(20060101);G05D23/20(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.02.26#授权

摘要：本申请提供一种测试柜。测试柜包括：柜体，所述柜体包括容置空间，所述容置空间用于放置待测试产品；自动化测试组件，所述自动化测试组件与所述待测试产品电连接，所述自动化测试组件用于测试所述待测试产品的配置端口的功能情况；老化测试组件，所述老化测试组件用于调节所述柜体内的测试温度。

主权项：1.一种测试柜，其特征在于，包括：柜体，所述柜体包括容置空间，所述容置空间用于放置待测试产品；自动化测试组件，所述自动化测试组件与所述待测试产品电连接，所述自动化测试组件用于测试所述待测试产品的配置端口的功能情况；老化测试组件，所述老化测试组件用于调节所述柜体内的测试温度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州迪普科技股份有限公司 测试柜

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD