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【发明公布】基于谱元法和广义薄片过渡条件的超表面电磁仿真技术_厦门大学_202011552045.1 

申请/专利权人:厦门大学

申请日:2020-12-24

公开(公告)日:2021-04-06

公开(公告)号:CN112613177A

主分类号:G06F30/20(20200101)

分类号:G06F30/20(20200101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.06.14#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.04.06#公开

摘要:基于谱元法和广义薄片过渡条件的超表面电磁仿真技术,属于超表面设计领域。1建立模型:选定二维计算区域、介质材料参数以及入射光束,确定超表面的磁化率参数;2将计算区域用四边形网格单元剖分,并记录计算区域中每个单元的信息;3建立二维计算区域SEM‑GSTCs矩阵方程,求解每个结点的场值;4绘制磁场强度分布图;5通过重新调整材料合成磁化率的方式,进而改进材料的磁化率张量结构,利用更新后的磁化率张量,重复步骤3~4,直至获得指定的功能,结束迭代,输出超表面的磁化率张量,并根据磁化率进行下一步超表面的物理结构设计。可极大地节省CPU计算时间和内存,提高超表面设计仿真的效率。

主权项:1.基于谱元法和广义薄片过渡条件的超表面电磁仿真技术,其特征在于包括以下步骤:1建立模型:选定二维计算区域、介质材料参数以及入射光束,确定超表面的磁化率参数;2将计算区域用四边形网格单元剖分,并记录计算区域中每个单元的信息;3建立二维计算区域SEM-GSTCs矩阵方程,求解方程得到每个结点的场值;4绘制二维计算区域内的磁场强度分布图;5上述步骤4得到的磁场强度分布图若不满足超表面预先指定的功能,或出现不期望得到的特性,则通过重新调整材料合成磁化率的方式,进而改进材料的磁化率张量结构,利用更新后的磁化率张量,重复步骤3~4的过程,直至获得指定的功能,结束迭代,输出超表面的磁化率张量,并根据磁化率进行超表面的物理结构设计。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 厦门大学 基于谱元法和广义薄片过渡条件的超表面电磁仿真技术

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