申请/专利权人：深圳市宏旺微电子有限公司

申请日：2020-08-04

公开（公告）日：2021-04-06

公开（公告）号：CN212907098U

主分类号：G11C29/56(20060101)

分类号：G11C29/56(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.04.06#授权

摘要：本实用新型提出一种DDR4自动化测试设备的定位测试部件，包括测试定位底板、测试电路板、套、测试定位上盖板，所述测试电路板安装在所述测试定位底板与所述测试定位上盖板之间；所述测试定位上盖板包括收容槽，所述套收容在所述收容槽内，所述套包括测试孔，所述测试孔与所述卡槽相通；在测试不同尺寸的DDR4时，仅仅需要改变所述测试定位上盖板上的套即可，所述套能够压制所述测试电路板，以将所述测试电路板固定在卡槽内，进而方便测试设备对所述测试电路板进行测试操作。本实用新型减少了拆卸更换整个DDR4自动化测试设备的定位测试部件的情况出现，降低了工作难度。

主权项：1.一种DDR4自动化测试设备的定位测试部件，其特征在于，包括测试定位底板、测试电路板、套、测试定位上盖板，所述测试电路板安装在所述测试定位底板与所述测试定位上盖板之间；所述测试定位上盖板包括收容槽，所述测试定位底板包括卡槽，所述卡槽与所述收容槽相通，所述测试电路板放置在所述卡槽内，所述套收容在所述收容槽内，所述套压制所述测试电路板以对所述测试电路板限位；所述套设有测试孔，所述测试孔与所述卡槽、所述收容槽均相通。

全文数据：

权利要求：

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