申请/专利权人：姜山

申请日：2019-10-08

公开（公告）日：2021-04-09

公开（公告）号：CN112635293A

主分类号：H01J49/26(20060101)

分类号：H01J49/26(20060101);H01J49/10(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.09.28#实质审查的生效;2021.04.09#公开

摘要：本发明公开一种无机质谱仪，是一种基于多电荷态离子源的无机质谱仪器，具体结构包括：多电荷态离子源，前端分析系统、后端分系统和离子探测器。所述多电荷态离子源与前端分析系统相连接，所述前端分析系统与后端分析系统相连接，所述的后端分析系统与离子探测器相连接。该仪器具有排除分子本底和压低同量异位素本底能力，同时还有束流强、传输效率高等优点，从而显著地提高无机质谱仪测量的灵敏度和测量精度。

主权项：1.一种无机质谱仪，其特征在于，所述无机质谱仪包括：多电荷态离子源，用于产生3+或3+以上不同价电荷态的强流离子束流；所述强流离子束流包括：常量粒子束流、微量粒子束流、痕量粒子束流和超痕量粒子束流，所述超痕量粒子束流包括超痕量同位素和超痕量本底；前端分析系统，与所述多电荷态离子源连接，用于筛选所述常量粒子束流、所述微量粒子束流和所述痕量粒子束流，并吸收、测量所述常量粒子束流、所述微量粒子束流和所述痕量粒子束流，输出所述超痕量粒子束流；后端分析系统，与所述前端分析系统连接，用于排除所述超痕量粒子束流中的所述超痕量本底；离子探测器，与所述后端分析系统连接，用于接收所述超痕量同位素，并对所述超痕量同位素进行测量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 姜山 一种无机质谱仪

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