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【发明公布】磁共振成像装置和自动拍摄位置设定方法_株式会社日立制作所_202010472767.X 

申请/专利权人:株式会社日立制作所

申请日:2020-05-29

公开(公告)日:2021-04-09

公开(公告)号:CN112637478A

主分类号:H04N5/232(20060101)

分类号:H04N5/232(20060101);G06T7/70(20170101);A61B5/055(20060101)

优先权:["20191008 JP 2019-185131"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.04.19#授权;2021.04.27#实质审查的生效;2021.04.09#公开

摘要:本发明提供一种磁共振成像装置和自动拍摄位置设定方法,针对解剖学的构造复杂的组织能够在短时间内进行高精度的自动定位。在取得诊断用图像的主拍摄之前,执行侦查拍摄的第一测量,取得一维或二维的测量数据,使用通过上述第一测量取得的测量数据,判定上述被检测体的左右,使用上述左右判定的判定结果和通过上述第一测量取得的测量数据,计算侦查拍摄的第二测量的剖面位置,在该剖面位置执行上述第二测量,取得二维的测量数据,使用通过上述第二测量取得的二维的测量数据计算上述主拍摄的剖面位置。

主权项:1.一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:拍摄部,其使用核磁共振取得被检测体的剖面的图像;拍摄控制部,其进行控制使得上述拍摄部进行用于决定拍摄位置的侦查拍摄、以及取得诊断用图像的主拍摄;拍摄剖面决定部,其使用通过上述侦查拍摄取得的数据,决定上述主拍摄的拍摄剖面位置,上述拍摄控制部进行以下的控制:作为上述侦查拍摄执行取得一维或二维的测量数据的第一测量以及取得二维的测量数据的第二测量,上述拍摄剖面决定部具备:左右判定部,其使用通过上述第一测量取得的测量数据,判定上述被检测体的左右;剖面位置计算部,其使用上述左右判定的判定结果和通过上述第一测量取得的测量数据,计算上述第二测量的剖面位置,并且使用通过上述第二测量取得的测量数据,计算上述主拍摄的剖面位置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 株式会社日立制作所 磁共振成像装置和自动拍摄位置设定方法

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