申请/专利权人:株式会社日立高新技术
申请日:2019-10-18
公开(公告)日:2021-04-09
公开(公告)号:CN112639485A
主分类号:G01N35/10(20060101)
分类号:G01N35/10(20060101);G01N35/00(20060101)
优先权:["20181031 JP 2018-204879"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2021.04.27#实质审查的生效;2021.04.09#公开
摘要:通过使得样品分注系统的配管内部的流体温度稳定,能够稳定地维持高精度分注性能。自动分析装置包括使用样品探针20对样品分注位置处的样品进行分注的样品分注系统和控制样品分注系统的装置控制部26,装置控制部在样品被运送至样品分注位置前的待机状态下通过第一动作序列40,在对位于样品分注位置的样品进行分注的分析状态下通过第二动作序列30,使得样品分注系统动作,将在第一动作序列的1个循环中进行样品探针的内部清洗的时间设定为比在第二动作序列的1个循环中进行样品探针的内部清洗的时间短,或者,将第一动作序列设定为以多个循环中1次的比例进行样品探针的内部清洗。
主权项:1.一种自动分析装置,具有:样品分注系统,使用样品探针对于位于样品分注位置的样品进行分注,和装置控制部,用于控制所述样品分注系统;在样品被运送至所述样品分注位置前的待机状态下,所述装置控制部通过第一动作序列使所述样品分注系统动作,在对位于所述样品分注位置的样品进行分注的分析状态下,所述装置控制部通过第二动作序列使所述样品分注系统动作,将在所述第一动作序列的1个循环中进行所述样品探针的内部清洗的时间设定为比所述第二动作序列的1个循环中进行所述样品探针的内部清洗的时间短。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 株式会社日立高新技术 自动分析装置
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