申请/专利权人：宰体有限公司

申请日：2019-06-24

公开（公告）日：2021-04-09

公开（公告）号：CN112640075A

主分类号：H01L21/67(20060101)

分类号：H01L21/67(20060101);H01L21/677(20060101)

优先权：["20180622 KR 10-2018-0072325"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.07.06#实质审查的生效;2021.04.09#公开

摘要：本发明涉及元件分类装置，更详细地说，涉及根据分类标准自动分类诸如半导体芯片的元件的元件分类装置。本发明公开了一种元件分类装置，包括：装载部100，装载托盘30，所述托盘30装载待检查的元件10；DC测试部170，从所述装载部100接收待检查的元件10来执行DC测试；X‑Y工作台410，以X‑Y方向移动炼板20，所述炼板20为在导出待分类的元件10的空位置装载所述DC测试部170测试为优质品的待检查的元件10；卸载部300，根据预设定的分类标准，在与该分类标准相对应的托盘30装载从所述炼板20导出的待分类的元件10；第一缓冲托盘部610，设置为向所述DC测试部170上侧的装载位置及从所述装载位置以水平方向间隔的回避位置可移动托盘30，以在所述托盘30临时装载所述DC测试部170的DC测试结果检查为不合格的元件10。

主权项：1.一种元件分类装置，其特征在于，包括：装载部100，装载托盘30，所述托盘30装载待检查的元件10；DC测试部170，从所述装载部100接收待检查的元件10来执行DC测试；X-Y工作台410，以X-Y方向移动炼板20，所述炼板20为在导出待分类的元件10的空位置装载所述DC测试部170测试为优质品的待检查的元件10；卸载部300，根据预设定的分类标准，在与该分类标准相对应的托盘30装载从所述炼板20导出的待分类的元件10；第一缓冲托盘部610，设置为向所述DC测试部170上侧的装载位置及从所述装载位置以水平方向间隔的回避位置可移动托盘30，以在所述托盘30临时装载所述DC测试部170的DC测试结果检查为不合格的元件10。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 宰体有限公司 元件分类装置

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