申请/专利权人:上海航天控制技术研究所
申请日:2020-11-13
公开(公告)日:2021-04-09
公开(公告)号:CN112629557A
主分类号:G01C25/00(20060101)
分类号:G01C25/00(20060101)
优先权:
专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回
法律状态:2023.11.28#发明专利申请公布后的驳回;2021.04.27#实质审查的生效;2021.04.09#公开
摘要:本发明公开了一种MEMS陀螺仪自动化测试设备,包括:温箱,所述温箱内设有测试台;设置在所述测试台上的若干个待测MEMS陀螺仪;工控机,其与所述温箱以及所述测试台连接;所述工控机用于向所述温箱发送温度调整命令,所述温箱根据接收到的所述温度调整命令进行温度调整,直至所述温箱内的温度达到预设值;所述工控机用于获取各个通道上设置的所述待测MEMS陀螺仪的关键信息,所述关键信息包括每一所述待测MEMS陀螺仪的Q值、频差和温度系数信息,并将所述关键信息进行处理得到包含所有待测MEMS陀螺仪的Q值、频差和温度系数的数据文件。本发明可对多个MEMS陀螺仪的输出信号进行整合采集及简单地信号处理,减少了陀螺产品的出货不良率。
主权项:1.一种MEMS陀螺仪自动化测试设备,其特征在于,包括:温箱,所述温箱内设有测试台;设置在所述测试台上的若干个待测MEMS陀螺仪;每一所述待测MEMS陀螺仪对应占用所述测试台的一条测试通道;工控机,其与所述温箱以及所述测试台连接;所述工控机用于向所述温箱发送温度调整命令,所述温箱根据接收到的所述温度调整命令进行温度调整,直至所述温箱内的温度达到预设值;所述工控机用于获取各个通道上设置的所述待测MEMS陀螺仪的关键信息,所述关键信息包括每一所述待测MEMS陀螺仪的Q值、频差和温度系数信息,并将所述关键信息进行处理得到包含所有待测MEMS陀螺仪的Q值、频差和温度系数的数据文件。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海航天控制技术研究所 一种MEMS陀螺仪自动化测试设备
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