申请/专利权人：霸州市云谷电子科技有限公司

申请日：2020-12-10

公开（公告）日：2021-04-09

公开（公告）号：CN112630000A

主分类号：G01N3/02(20060101)

分类号：G01N3/02(20060101);G01N3/08(20060101);G01B5/00(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2023.12.19#发明专利申请公布后的驳回;2021.04.27#实质审查的生效;2021.04.09#公开

摘要：本申请实施例提供一种静压测试样品对位装置及静压测试系统，第一对位平台与底座活动连接并可沿第一方向移动，并在第一对位平台上远离底座一侧设置第二对位平台与第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，同时在底座上沿第一方向设置第一定位刻度条，在第一对位平台沿第二方向设置第二定位刻度条。如此通过第一对位平台和第二对位平台的对位移动，并分别结合第一定位刻度条和第二定位刻度条，可以对一个待测样品多个测试点位的快速准确定位，并实现对多组待测样品在同一测试点位的快速准确定位，减少人为主观移动待测样品对位造成的误差，减少测试点位的对位耗时，确保多组待测样品在同一测试点位的测试一致性，进而提高测试结果的准确性。

主权项：1.一种静压测试样品对位装置，其特征在于，包括：底座；设置于所述底座上的第一对位平台；以及设置于所述第一对位平台上远离所述底座一侧的第二对位平台，所述第二对位平台上用于设置待测样品；其中，所述第一对位平台与所述底座活动连接并可沿第一方向移动，所述第二对位平台与所述第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，所述底座上沿所述第一方向设置有第一定位刻度条，所述第一对位平台沿所述第二方向设置有第二定位刻度条。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 霸州市云谷电子科技有限公司 静压测试样品对位装置及静压测试系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD