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【发明公布】小角度X射线散射测量_布鲁克科技公司_201980056235.3 

申请/专利权人:布鲁克科技公司

申请日:2019-07-04

公开(公告)日:2021-04-13

公开(公告)号:CN112654861A

主分类号:G01N23/201(20180101)

分类号:G01N23/201(20180101);G01N23/046(20180101);G01N23/20(20180101);G01N23/207(20060101);G01N23/22(20180101);G01N23/223(20060101)

优先权:["20180705 US 62/964,097","20180728 US 62/711,476","20180728 US 62/711,477","20180728 US 62/711,478"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.04.30#实质审查的生效;2021.04.13#公开

摘要:一种x射线装置,该x射线装置可以包括被配置为保持样品的底座;x射线源,该x射线源被配置为将x射线束引向样品的第一侧;检测器,该检测器位于样品的第二侧的下游,该检测器被配置为在样品测量时段期间检测已经透射通过样品的x射线的至少一部分;以及x射线强度检测器,该x射线强度检测器在射束强度监控时段期间定位在位于x射线源与样品的第一侧之间的测量位置处,以便检测x射线束到达样品之前的x射线束的至少一部分。

主权项:1.一种x射线装置,包括:底座,所述底座被配置为保持样品;x射线源,所述x射线源被配置为将x射线束引向所述样品的第一侧;检测器,所述检测器位于所述样品的第二侧的下游,所述检测器被配置为在样品测量时段期间检测已经透射通过所述样品的x射线的至少一部分;以及x射线强度检测器,所述x射线强度检测器在射束强度监控时段期间被定位在位于所述x射线源和所述样品的所述第一侧之间的测量位置处,以便检测在所述x射线束到达所述样品之前的所述x射线束的至少一部分。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 布鲁克科技公司 小角度X射线散射测量

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