申请/专利权人：深圳市禾望电气股份有限公司

申请日：2020-12-22

公开（公告）日：2021-04-13

公开（公告）号：CN112650119A

主分类号：G05B19/042(20060101)

分类号：G05B19/042(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2023.03.07#发明专利申请公布后的驳回;2021.04.30#实质审查的生效;2021.04.13#公开

摘要：本申请公开一种基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置，其扩展方法包括：当捕获到事件发生时，将当前MCU的定时器的计数值作为事件发生时刻的低字，并根据MCU的定时器是否溢出推算得到事件发生时刻的高字，事件发生时刻的高字和事件发生时刻的低字共同组合成事件的发生时刻。本申请对事件发生时刻的测量范围的扩展具有低成本、高性能的优点。

主权项：1.一种基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法，其特征在于，包括：当捕获到事件发生时，将当前MCU的定时器的计数值作为事件发生时刻的低字，并根据MCU的定时器是否溢出推算得到事件发生时刻的高字，事件发生时刻的高字和事件发生时刻的低字共同组合成事件的发生时刻；所述高字和所述低字的字长不限于16位。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市禾望电气股份有限公司 基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD