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【发明公布】存储装置的测试方法、测试系统及测试载板_中山市江波龙电子有限公司_202011566035.3 

申请/专利权人:中山市江波龙电子有限公司

申请日:2020-12-25

公开(公告)日:2021-04-13

公开(公告)号:CN112652353A

主分类号:G11C29/56(20060101)

分类号:G11C29/56(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.04.30#实质审查的生效;2021.04.13#公开

摘要:本申请涉及存储装置测试技术领域,公开了存储装置的测试方法、测试系统及测试载板。该方法应用于测试载板,多个测试载板放置于同一测试架上,用于分别对一存储装置进行测试,该方法包括:在检测到连接第一存储装置时,检测第一存储装置中是否有程序数据;若有,则基于程序数据的类型,对测试载板进行相应的操作;若没有,则对第一存储装置进行测试。通过上述方式,能够保证测试效率。

主权项:1.一种存储装置的测试方法,其特征在于,所述方法应用于测试载板,多个所述测试载板放置于同一测试架上,用于分别对一存储装置进行测试,所述方法包括:在检测到连接第一存储装置时,检测所述第一存储装置中是否有程序数据;若有,则基于所述程序数据的类型,对所述测试载板进行相应的操作;若没有,则对所述第一存储装置进行测试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中山市江波龙电子有限公司 存储装置的测试方法、测试系统及测试载板

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