申请/专利权人：深圳市裕展精密科技有限公司

申请日：2020-12-30

公开（公告）日：2021-04-13

公开（公告）号：CN112648961A

主分类号：G01B21/18(20060101)

分类号：G01B21/18(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.02.17#授权;2021.04.30#实质审查的生效;2021.04.13#公开

摘要：提供一种孔深检测装置，包括检测器、第一测量模组和第二测量模组。检测器，具有固定件和移动件，用于检测移动件相对固定件在测量方向上的运动距离。第一测量模组，与固定件连接，包括限位件，限位件的测量端用于抵持工件面，限位件内具有调整腔。第二测量模组包括测量杆和测量头，测量杆与移动件连接。测量头包括抵接部、定位部和测量部。其中，抵接部沿垂直于测量方向设于调整腔内，与测量杆抵接。定位部伸出测量端，用于进入待测孔。测量部连接抵接部及定位部，用于抵持待测量面。测量头能够通过自身调节使得测量部正确抵持于待测量面，使得检测器准确检测到待测量面的工件面的距离。本申请还提供一种孔深检测装置的归零方法及检测方法。

主权项：1.一种孔深检测装置，用于测量工件面上待测孔的待测量面到所述工件面的距离，包括：检测器，具有固定件和移动件，用于检测所述移动件相对所述固定件在测量方向上的运动距离；第一测量模组，与所述固定件连接，包括限位件，所述限位件的测量端用于抵持所述工件面，所述限位件内具有调整腔；第二测量模组，包括测量杆和测量头，所述测量杆与所述移动件连接；所述测量头包括：抵接部，沿垂直于所述测量方向设于所述调整腔内，与所述测量杆抵接；定位部，伸出所述测量端，用于进入所述待测孔；测量部，连接所述抵接部及所述定位部，用于抵持所述待测量面。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市裕展精密科技有限公司 孔深检测装置、孔深检测装置的归零方法及检测方法

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