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【发明公布】使用双定位的整体约束的定位方法_北京平恒智能科技有限公司_202110202076.2 

申请/专利权人:北京平恒智能科技有限公司

申请日:2021-02-23

公开(公告)日:2021-04-13

公开(公告)号:CN112651972A

主分类号:G06T7/00(20170101)

分类号:G06T7/00(20170101);G06T7/13(20170101)

优先权:["20201111 CN 2020112560279"]

专利状态码:失效-发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态:2024.01.12#发明专利申请公布后的视为撤回;2021.04.30#实质审查的生效;2021.04.13#公开

摘要:本发明申请提供了一种使用双定位的整体约束的方法来提高定位准确度,同时缩短整体定位的时间,利用两个较小的形状特征提取形状模型,在匹配形状模型后,两个形状模型的中心点生成一个向量,利用模板向量和待检测图像上的向量,根据两个向量的余弦相似度求出两个向量的夹角,根据这个夹角对检测框ROI进行欧式变换。本发明申请可以应用在多种视觉检测系统中,解决了当待检测图像很大时,整体定位时间很长,检测效率低和定位位置不准确,检测准确低的问题。

主权项:1.一种使用双定位的整体约束的定位方法,其特征在于,包括以下步骤:应用于缺陷视觉检测系统,缺陷检测系统包括拍照成像装置、传送装置、图像处理视觉检测软件、分拣装置;待检测物品体积较大,或视觉缺陷检测精度较高,成像装置所拍摄的图片比较大;图像处理视觉检测软件先加载一张模板图像,要求模板图像的图像清晰,形状特征边缘清晰,待检测物品尽量没有偏转角度;使用两个定位框尽可能大的框住定位的形状特征,提取形状模板ID;在模板图像上绘制所需个数的检测框ROI,也就是待检测区域;记录上述的位置信息:两组定位形状模板位置信息、待检测ROI的位置信息;在待检测图像上匹配定位形状模板;模板图像两组定位形状模板中心点生成一个向量,待检测图像的定位形状中心点生成一个向量;根据两个向量的余弦相似度可以求出两个向量的夹角;根据这个夹角对检测框ROI进行欧式变换;计算公式:;对待检测图像的ROI区域进行图像处理,缺陷检测,这里使用多个ROI对检测区域进行了分割,所以可以使算法并行处理多个ROI检测区域,从而更进一步的提高图像处理速度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京平恒智能科技有限公司 使用双定位的整体约束的定位方法

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