申请/专利权人：兰州空间技术物理研究所

申请日：2020-12-01

公开（公告）日：2021-04-27

公开（公告）号：CN112710597A

主分类号：G01N15/14(20060101)

分类号：G01N15/14(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.06.20#授权;2021.05.14#实质审查的生效;2021.04.27#公开

摘要：本发明提供一种适用于空间尘埃粒径测量的光学传感器结构设计方法，根据光学传感器的关键参数与光学传感器内表面数学理论方程得到光学传感器内表面在极坐标系下的工程设计方程，进而推导出机床可识别的直角坐标系下的工程设计方程，机床按照直角坐标系下的工程设计方程对基材进行切削加工，即可得到理想聚光器的非成像聚光器光学传感器；也就是说，本发明得到的光学传感器能够可靠地将空间进入粒径测量系统的尘埃影像大小信号可靠地识别，并将获得高精度的粒径测量信号可靠地传输到电子学内部测量电路，进而非接触地精确测量尘埃的粒径大小。

主权项：1.一种适用于空间尘埃粒径测量的光学传感器结构设计方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：确定光学传感器的关键参数，其中，所述关键参数包括出口直径d1＝7.846mm、入口直径d2＝40mm以及最大接收角θmax＝11.3°；S2：基于光学传感器的关键参数与光学传感器内表面数学理论方程得到光学传感器内表面在极坐标系下的工程设计方程如下： 其中，t为辅助变量，且t∈0,1，r为极径，θ为极角，且θ∈11.3°,90°，同时满足θ＝11.3°+90°-11.3°×t；S3：将极坐标系下的工程设计方程转换为机床可识别的直角坐标系下的工程设计方程如下：z＝0y＝1+sin11.3×7.846×sin11.3+78.7×t1-cos11.3×cos11.3+78.7×t+sin11.3×sin11.3+78.7×t-3.923x＝1+sin11.3×7.846×cos11.3+78.7×t1-cos11.3×cos11.3+78.7×t+sin11.3×sin11.3+78.7×tS4：机床按照直角坐标系下的工程设计方程对基材进行切削加工，得到所需的光学传感器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 兰州空间技术物理研究所 一种适用于空间尘埃粒径测量的光学传感器结构设计方法

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