申请/专利权人:北京航天测控技术有限公司
申请日:2020-12-25
公开(公告)日:2021-04-27
公开(公告)号:CN112711296A
主分类号:G06F1/12(20060101)
分类号:G06F1/12(20060101);G06F15/78(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.07.21#授权;2021.05.14#实质审查的生效;2021.04.27#公开
摘要:本申请涉及一种校准系统,包括:数字测试模块、控制终端和继电器阵列;数字测试模块包括:多个信号传输通道、可编程逻辑模块和主控模块;其中,每个信号传输通道的两端分别连接可编程逻辑模块和继电器阵列;主控模块与控制终端通信连接,可编程逻辑模块与继电器阵列电连接;控制终端向主控模块下发延迟校准指令;主控模块在延迟校准指令的控制下,控制可编程逻辑模块检测每个信号传输通道在数字测试模块内部的内部传输时长,任意两个信号传输通道通过继电器阵列形成闭合回路,可编程逻辑模块检测闭合回路的整体传输时长;并对数字测试模块进行同步时序校准,用以解决数字测试模块各信号传输通道间的延时问题。
主权项:1.一种校准系统,其特征在于,包括:数字测试模块、控制终端和继电器阵列;所述数字测试模块包括:多个信号传输通道、可编程逻辑模块和主控模块;其中,每个所述信号传输通道的两端分别连接所述可编程逻辑模块和所述继电器阵列;所述主控模块与所述控制终端通信连接,所述可编程逻辑模块与所述继电器阵列电连接;所述控制终端用于向所述主控模块下发延迟校准指令;所述主控模块在所述延迟校准指令的控制下,控制所述可编程逻辑模块检测每个所述信号传输通道在所述数字测试模块内部的内部传输时长,任意两个所述信号传输通道通过所述继电器阵列形成闭合回路,所述主控模块用于控制所述可编程逻辑模块检测所述闭合回路的整体传输时长;所述主控模块控制所述可编程逻辑模块对所述内部传输时长和所述整体传输时长进行同步时序校准;所述同步时序校准后的数字测试模块用于对芯片的管脚进行测试。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京航天测控技术有限公司 一种校准系统
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