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【发明授权】一种器件校准装置_武汉元生创新科技有限公司_201910848528.7 

申请/专利权人:武汉元生创新科技有限公司

申请日:2019-09-09

公开(公告)日:2021-04-27

公开(公告)号:CN110672120B

主分类号:G01C25/00(20060101)

分类号:G01C25/00(20060101);G01P21/02(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.04.27#授权;2020.02.11#实质审查的生效;2020.01.10#公开

摘要:本发明公开了一种器件校准装置,该器件校准装置用于对指定封装形式的模块进行检测,器件校准装置包括:底座,底座包括多个侧壁,每一侧壁上设置有多个导电件;其中,导电件用于与待校准模块的引脚连接,导电件的底端与底座固定连接,导电件的顶端为活动端,在垂直于底座的方向上可产生位移。在本发明的方案中,导电件具有弹性,导电件在垂直于底座的方向上可以发生位移,在校准时,模块与底座的接触应力可以通过导电件释放,不会像现有的底座那样发生不可逆的形变,大大降低了使用底座进行检测和校准时,接触应力对于模块的影响,提高校准精度以及校准的一致性。

主权项:1.一种器件校准装置,其特征在于,所述器件校准装置用于对指定封装形式的模块进行检测,所述器件校准装置包括:底座1,所述底座1包括多个侧壁11,每一所述侧壁11上设置有多个导电件12;其中,所述导电件12用于与待校准模块的引脚连接,所述导电件12的底端与所述底座1固定连接,所述导电件12的顶端为活动端,在垂直于所述底座1的方向上可产生位移;每一所述侧壁11上设置有多个开槽15,每一所述开槽15内设置有所述导电件12,所述导电件12呈多级弯折状,所述导电件12的顶部121与所述底座1所在的平面平行;在初始状态下,所述导电件12的顶部121相对于所述底座1处于第一位置,在所述导电件12被按压时,所述导电件12的顶部121相对于所述底座1处于第二位置,在施加在所述导电件12上的力被释放后,所述导电件12的顶部121重新回到所述第一位置;当所述导电件12的顶部121相对于所述底座1处于第一位置时,所述导电件12的顶部121相对于所述底座1具有第一距离;当所述导电件12的顶部121相对于所述底座1处于第二位置时,所述导电件12的顶部121相对于所述底座1具有第二距离,其中,所述第二距离小于所述第一距离;所述导电件12包括第一连接部122、第二连接部123和固定部124,所述顶部121与所述第一连接部122连接,所述第二连接部123与所述第一连接部122连接,所述第二连接部123与所述固定部124连接,所述导电件12的固定部124与所述底座1固定连接,所述顶部121为自由活动端,其中,所述第一连接部122和所述第二连接部123均倾斜于所述底座1所在的平面;其中,在待测模块设置在所述底座1上后,所述待测模块的引脚与相应的导电件12的顶部121连接,所述导电件12的顶部121由所述第一位置运动至所述第二位置;每一所述开槽15处设置有探测器3,所述探测器3用于检测各个导电件12的形变情况,确定所述第二距离与所述第一距离之间的差值,以确定待校准模块与各个导电件12的连接情况;所述探测器3为角度探测器,所述角度探测器设置在所述开槽15的底部,所述角度探测器用于检测设置在所述固定部124和所述第二连接部123之间的角度变化情况,以确定所述第二距离与所述第一距离之间的差值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 武汉元生创新科技有限公司 一种器件校准装置

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