申请/专利权人：华信仪器(北京)有限公司

申请日：2020-04-13

公开（公告）日：2021-04-27

公开（公告）号：CN213067671U

主分类号：G01D18/00(20060101)

分类号：G01D18/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.04.27#授权

摘要：本实用新型涉及过程信号校验仪技术领域，公开了一种过程信号校验仪，包括过程信号校验仪和密封罩；所述过程信号校验仪顶部设置有信号校验接口，所述过程信号校验仪顶部固定套有密封罩，所述密封罩顶部垂直固定粘接有套管，所述套管内腔设置有橡胶套，所述套管外壁上螺纹连接有限位套，所述套管内腔中部垂直滑动插入有信号校验接头，所述密封罩顶部垂直贯穿开设有连接孔。本实用新型避免了信号校验接头使用过程中与信号校验接口发生相对转动或移动，进而有效的提高了过程信号校验仪模拟信号传输的稳定性，从而可以有效的提高过程信号校验仪校准工作的准确性，且圆形瓣膜在本装置不使用时可以有效的避免灰尘进入信号校验接口内。

主权项：1.一种过程信号校验仪，其特征在于，包括过程信号校验仪1和密封罩4；所述过程信号校验仪1顶部设置有信号校验接口8，所述过程信号校验仪1顶部固定套有密封罩4，所述密封罩4顶部垂直固定粘接有套管5，所述套管5内腔设置有橡胶套10，所述套管5外壁上螺纹连接有限位套6，所述套管5内腔中部垂直滑动插入有信号校验接头7，所述密封罩4顶部垂直贯穿开设有连接孔11，所述密封罩4内腔顶部固定粘接有圆形瓣膜9。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华信仪器(北京)有限公司 一种过程信号校验仪

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