申请/专利权人:广东中图半导体科技股份有限公司
申请日:2020-09-21
公开(公告)日:2021-04-27
公开(公告)号:CN213069478U
主分类号:G03F7/38(20060101)
分类号:G03F7/38(20060101);H01L21/67(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2021.04.27#授权
摘要:本实用新型公开了一种晶圆烘干装置,该晶圆烘干装置包括底座、烘干组件和温度检测件,烘干组件为多个,多个烘干组件依次套设,且每个烘干组件可升降地设在底座上,烘干组件能够支撑晶圆,温度检测件设在底座上方,温度检测件用于检测晶圆的温度。该晶圆烘干装置,由于具有多个套设的烘干组件,使得多个烘干组件对晶圆进行不均匀烘干,实现对涂胶过程中边缘效应的补偿,改善了晶圆边缘膜厚较厚的现象,从而保证了晶圆上的薄膜层的厚度较为均匀。
主权项:1.一种晶圆烘干装置,其特征在于,包括:底座1;烘干组件,所述烘干组件为多个,多个所述烘干组件依次套设,且每个所述烘干组件可升降地设在所述底座1上,所述烘干组件能够支撑晶圆100;温度检测件3,所述温度检测件3设在所述底座1上方,所述温度检测件3用于检测晶圆100的温度。
全文数据:
权利要求:
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