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【实用新型】芯片测试模式切换电路_湖南进芯电子科技有限公司_202021482019.1 

申请/专利权人:湖南进芯电子科技有限公司

申请日:2020-07-24

公开(公告)日:2021-04-27

公开(公告)号:CN213069089U

主分类号:G01R31/317(20060101)

分类号:G01R31/317(20060101);G01R31/3183(20060101);G01R31/3181(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.04.27#授权

摘要:本实用新型提供了一种芯片测试模式切换电路,包括:寄存器模块,所述寄存器模块的第一端与KEY端电连接,所述寄存器模块的第二端与LATCH端电连接,所述寄存器模块的第三端与XRSn端电连接;测试模式使能信号发生器,所述测试模式使能信号发生器的第一端与所述寄存器模块的第四端电连接;信号切换模块,所述信号切换模块的第一端与所述测试模式使能信号发生器的第二端电连接,所述信号切换模块的第二端输入第一信号,所述信号切换模块的第三端输出第二信号。本实用新型所提供的芯片测试模式切换电路,在不增加芯片端口的情况下,有效的隔离了测试模式和正常工作模式,使得测试模式和正常工作模式能够独立工作互不干扰,防止了芯片误进入测试模式。

主权项:1.一种芯片测试模式切换电路,其特征在于,包括:寄存器模块,所述寄存器模块的第一端与KEY端电连接,所述寄存器模块的第二端与LATCH端电连接,所述寄存器模块的第三端与XRSn端电连接;测试模式使能信号发生器,所述测试模式使能信号发生器的第一端与所述寄存器模块的第四端电连接;信号切换模块,所述信号切换模块的第一端与所述测试模式使能信号发生器的第二端电连接,所述信号切换模块的第二端输入第一信号,所述信号切换模块的第三端输出第二信号,所述信号切换模块的第四端输出第三信号,所述信号切换模块的第五端输出第四信号,所述信号切换模块的第六端输入第五信号,所述信号切换模块的第七端输入第六信号。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 湖南进芯电子科技有限公司 芯片测试模式切换电路

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