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【实用新型】芯片扫描链测试模式切换电路_湖南进芯电子科技有限公司_202021656391.X 

申请/专利权人:湖南进芯电子科技有限公司

申请日:2020-08-11

公开(公告)日:2021-04-27

公开(公告)号:CN213069090U

主分类号:G01R31/3185(20060101)

分类号:G01R31/3185(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.04.27#授权

摘要:本实用新型提供了一种芯片扫描链测试模式切换电路,包括:边界扫描测试接口,所述边界扫描测试接口的第一端为测试数据输出端,所述边界扫描测试接口的第二端为测试数据输入端,所述边界扫描测试接口的第三端为测试复位端,所述边界扫描测试接口的第四端为测试模式选择端,所述边界扫描测试接口的第五端为测试时钟端。本实用新型所提供的芯片扫描链测试模式切换电路,通过配置指令寄存器和数据寄存器进入扫描链测试模式,提高了芯片的安全性,在不增加芯片端口的情况下,通过配置数据寄存器实现扫描链由多链模式切换为单链模式,增加了扫描链测试模式的进入难度,防止了黑客通过扫描链攻击芯片,节省了芯片在调试时所需的端口资源。

主权项:1.一种芯片扫描链测试模式切换电路,其特征在于,包括:边界扫描测试接口,所述边界扫描测试接口的第一端为测试数据输出端,所述边界扫描测试接口的第二端为测试数据输入端,所述边界扫描测试接口的第三端为测试复位端,所述边界扫描测试接口的第四端为测试模式选择端,所述边界扫描测试接口的第五端为测试时钟端;边界扫描测试接口控制器,所述边界扫描测试接口控制器的第一端与所述边界扫描测试接口的第六端电连接,所述边界扫描测试接口控制器的第二端与所述边界扫描测试接口的第七端电连接,所述边界扫描测试接口控制器的第三端与所述边界扫描测试接口的第八端电连接;数据寄存器,所述数据寄存器的第一端与所述边界扫描测试接口的第九端电连接,所述数据寄存器的第二端与所述数据寄存器的第一端电连接,所述数据寄存器的第三端与所述数据寄存器的第二端电连接,所述数据寄存器的第四端与所述数据寄存器的第三端电连接,所述数据寄存器的第五端与所述边界扫描测试接口控制器的第四端电连接;第一数据选择器,所述第一数据选择器的第一端与所述数据寄存器的第六端电连接,所述第一数据选择器的第二端与所述数据寄存器的第七端电连接,所述第一数据选择器的第三端与所述数据寄存器的第八端电连接,所述第一数据选择器的第四端与所述数据寄存器的第九端电连接;第二数据选择器,所述第二数据选择器的第一端与所述第一数据选择器的第五端电连接,所述第二数据选择器的第二端与所述边界扫描测试接口的第十端电连接,所述第二数据选择器的第三端与所述边界扫描测试接口控制器的第五端电连接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 湖南进芯电子科技有限公司 芯片扫描链测试模式切换电路

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