【发明公布】一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法_浙江威固信息技术有限责任公司_202110163587.8 

申请/专利权人:浙江威固信息技术有限责任公司

申请日:2021-02-05

发明/设计人:吴佳;李礼;吴叶楠

公开(公告)日:2021-05-07

代理机构:上海氦闪专利代理事务所(普通合伙)

公开(公告)号:CN112767990A

代理人:李明;袁媛

主分类号:G11C29/12(20060101)

地址:313200 浙江省湖州市德清县阜溪街道双山路136号7幢402号

分类号:G11C29/12(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2021.05.07#公开

摘要:本发明涉及一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法,包括被测闪存单元的单粒子翻转与内部控制芯片的单粒子翻转分离计数,仅对被测闪存单元的单粒子翻转计数(而非所有单粒子翻转计数)乘以固态硬盘容量与被测闪存单元容量的比;加上内部控制芯片的单粒子翻转计数,最终作为固态硬盘整体的单粒子翻转计数;用高能粒子辐照被测固态硬盘并开始统计总注量Q,结合依据步骤S2得到的固态硬盘整体的单粒子翻转计数,计算被测固态硬盘的单粒子翻转截面;本发明的固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法,能针对不能准确反映固态硬盘对单粒子效应敏感程度的问题,提高固态硬盘单粒子效应测试的准确度,准确反映固态硬盘对单粒子效应的敏感程度。

主权项:1.一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法,其特征在于:包括:被测闪存单元的单粒子翻转与内部控制芯片的单粒子翻转分离计数,仅对被测闪存单元的单粒子翻转计数(而非所有单粒子翻转计数)乘以固态硬盘容量与被测闪存单元容量的比;加上内部控制芯片的单粒子翻转计数,最终作为固态硬盘整体的单粒子翻转计数;用高能粒子辐照被测固态硬盘并开始统计总注量Q,结合依据步骤S2得到的固态硬盘整体的单粒子翻转计数,计算被测固态硬盘的单粒子翻转截面。

全文数据:

权利要求:

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