申请/专利权人：仁宝电脑工业股份有限公司

申请日：2020-11-06

公开（公告）日：2021-06-08

公开（公告）号：CN112924845A

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：["20191205 US 62/944,340"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.06.25#实质审查的生效;2021.06.08#公开

摘要：本发明提供一种测试治具及测试方法。测试治具包括平台、载送单元、侧盖以及测试模块。平台具有平台表面；载送单元设置在平台表面上，在第一方向上相对平台线性移动，载送单元具有两个以上的放置区，且电路板对应放入放置区内，其中电路板彼此间在第二方向上不重叠，第二方向垂直于第一方向；侧盖设置在平台上并位于载送单元的一侧；测试模块设置在平台上，且位于测试位置的上方，在电路板被运送到测试位置后，测试模块沿着第二方向线性移动以接触并检测电路板。

主权项：1.一种测试治具，其特征在于，用以在同一个测试步骤中测试两个以上的电路板，所述测试治具包括：平台，具有平台表面；载送单元，设置在所述平台表面上，所述载送单元具有两个以上的放置区，且所述电路板对应放入所述放置区内，所述载送单元在第一方向上相对所述平台线性移动，以将所述电路板从装设位置运送至测试位置，其中所述电路板对应放置在所述放置区内时，所述电路板彼此间在第二方向上不重叠，所述第二方向垂直于所述第一方向；侧盖，设置在所述平台上并位于所述载送单元的一侧；以及测试模块，设置在所述平台上，且位于所述测试位置的上方，在所述电路板被运送到所述测试位置后，所述测试模块沿着所述第二方向线性移动以接触并检测所述电路板。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 仁宝电脑工业股份有限公司 测试治具及测试方法

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