【发明公布】测试治具及测试方法_仁宝电脑工业股份有限公司_202011230503.X 

申请/专利权人:仁宝电脑工业股份有限公司

申请日:2020-11-06

发明/设计人:许明杰;吴天森;王平安

公开(公告)日:2021-06-08

代理机构:北京同立钧成知识产权代理有限公司

公开(公告)号:CN112924845A

代理人:宋兴;臧建明

主分类号:G01R31/28(20060101)

地址:中国台湾台北市内湖区瑞光路581号及581之1号

分类号:G01R31/28(20060101)

优先权:["20191205 US 62/944,340"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2021.06.08#公开

摘要:本发明提供一种测试治具及测试方法。测试治具包括平台、载送单元、侧盖以及测试模块。平台具有平台表面;载送单元设置在平台表面上,在第一方向上相对平台线性移动,载送单元具有两个以上的放置区,且电路板对应放入放置区内,其中电路板彼此间在第二方向上不重叠,第二方向垂直于第一方向;侧盖设置在平台上并位于载送单元的一侧;测试模块设置在平台上,且位于测试位置的上方,在电路板被运送到测试位置后,测试模块沿着第二方向线性移动以接触并检测电路板。

主权项:1.一种测试治具,其特征在于,用以在同一个测试步骤中测试两个以上的电路板,所述测试治具包括:平台,具有平台表面;载送单元,设置在所述平台表面上,所述载送单元具有两个以上的放置区,且所述电路板对应放入所述放置区内,所述载送单元在第一方向上相对所述平台线性移动,以将所述电路板从装设位置运送至测试位置,其中所述电路板对应放置在所述放置区内时,所述电路板彼此间在第二方向上不重叠,所述第二方向垂直于所述第一方向;侧盖,设置在所述平台上并位于所述载送单元的一侧;以及测试模块,设置在所述平台上,且位于所述测试位置的上方,在所述电路板被运送到所述测试位置后,所述测试模块沿着所述第二方向线性移动以接触并检测所述电路板。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 仁宝电脑工业股份有限公司 测试治具及测试方法