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【发明公布】训管控制系统及方法_北京君和信达科技有限公司_202110274293.2 

申请/专利权人:北京君和信达科技有限公司

申请日:2021-03-15

公开(公告)日:2021-06-08

公开(公告)号:CN112924481A

主分类号:G01N23/203(20060101)

分类号:G01N23/203(20060101);G01N23/20008(20180101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.04.07#授权;2021.06.25#实质审查的生效;2021.06.08#公开

摘要:公开了一种训管控制系统及方法。训管控制系统包括:调制装置,用于对辐射源发射的射线束进行调制,形成对检测区域进行飞点扫描的扫描射线束,其中,在调制过程中存在至少一个中间调制状态,使得中间调制状态下辐射源发射的射线束无法入射到检测区域,调制装置被配置为在对辐射源进行训管时,维持在中间调制状态。由此,调制装置在用于为对辐射源发射的射线束进行调制以形成用于飞点扫描的扫描射线束的基础上,通过额外提供用于使辐射源发射的射线束无法入射到检测区域的中间调制状态,使得在对辐射源进行训管时,通过直接控制调制装置维持在中间调制状态,即可达到训管要求,而无需设置额外的结构部件,从而可以节省成本。

主权项:1.一种训管控制系统,包括:调制装置,用于对辐射源发射的射线束进行调制,形成对检测区域进行飞点扫描的扫描射线束,其中,在调制过程中存在至少一个中间调制状态,使得所述中间调制状态下所述辐射源发射的射线束无法入射到所述检测区域,所述调制装置被配置为在对所述辐射源进行训管时,维持在所述中间调制状态。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京君和信达科技有限公司 训管控制系统及方法

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