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【实用新型】无损检测曝光支架_马秀文_202022838304.9 

申请/专利权人:马秀文

申请日:2020-12-02

公开(公告)日:2021-06-08

公开(公告)号:CN213398262U

主分类号:G01N23/00(20060101)

分类号:G01N23/00(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.06.08#授权

摘要:本实用新型公开了一种无损检测曝光支架,包括底框,所述底框的内壁固定连接有立柱,所述立柱的顶部固定连接有托盘,所述底框的内部设置有转动装置,所述转动装置与立柱相连接,本实用新型涉及无损检测技术领域。该一种无损检测曝光支架,达到了底框、立柱、托盘、转动装置、支撑装置、滑块、探伤机与限位装置组成一个整体,设置托盘,便于对待检测物品进行放置,利用转动装置,带动支撑装置转动,带动滑块转动,进而带动探伤机转动,便于对物品进行360°检测,同时设置限位装置,便于调节滑块的高度与角度,配合转动装置,便于对物体进行全方位检测,提高检测效率,方便工作人员进行操作,满足使用需求的目的。

主权项:1.一种无损检测曝光支架,包括底框(1),其特征在于:所述底框(1)的内壁固定连接有立柱(2),所述立柱(2)的顶部固定连接有托盘(3),所述底框(1)的内部设置有转动装置(4),所述转动装置(4)与立柱(2)相连接,所述转动装置(4)的侧壁固定连接有支撑装置(5),所述支撑装置(5)滑动连接有滑块(6),所述滑块(6)的侧壁固定连接有探伤机(7),所述滑块(6)的侧壁设置有限位装置(8),所述限位装置(8)与支撑装置(5)卡接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 马秀文 无损检测曝光支架

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