申请/专利权人：跃澐科技股份有限公司

申请日：2020-01-10

公开（公告）日：2021-07-16

公开（公告）号：CN113125816A

主分类号：G01R1/067(20060101)

分类号：G01R1/067(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开

摘要：本发明有关于一种双头测试探针结构，由一金属材料制成，主要于一直线状本体的两对应端，分别延设有一弯折部，各弯折部的末端为一尖端状的测试接头。该种应用于电子或晶圆业进行导电性测试用的探针，具有耐用、硬度佳、整体间距短等优点，能有效延长使用寿命。

主权项：1.一种双头测试探针结构，其特征在于，于一直线状本体的两对应端，分别延设有一弯折部，各弯折部的末端为一测试接头。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 跃澐科技股份有限公司 双头测试探针结构

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