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【发明公布】光学检测设备与光学检测方法_由田新技股份有限公司_202011047647.1 

申请/专利权人:由田新技股份有限公司

申请日:2020-09-29

公开(公告)日:2021-07-16

公开(公告)号:CN113125343A

主分类号:G01N21/01(20060101)

分类号:G01N21/01(20060101);G01N21/95(20060101)

优先权:["20191231 TW 108148608"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开

摘要:本发明提供一种光学检测设备与光学检测方法,用以检测待测物,光学检测设备包括平台、至少一侧光源、取像单元以及图像处理单元。待测物适于承载在平台上。侧光源提供平行光行经且贴近待测物的至少一表面。取像单元朝向待测物的方向以获取待测物的图像。图像处理单元电性连接取像单元以接收待测物的图像从而评估待测物的表面质量。

主权项:1.一种光学检测设备,其特征在于,用以检测待测物,所述光学检测设备包括:平台,所述待测物适于承载在所述平台上;至少一侧光源,提供平行光行经且贴近所述待测物的至少一表面;取像单元,朝向所述待测物的方向,以获取所述待测物的图像;以及图像处理单元,电性连接所述取像单元以接收所述待测物的图像从而评估所述待测物的表面质量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 由田新技股份有限公司 光学检测设备与光学检测方法

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