申请/专利权人：中国兵器科学研究院宁波分院

申请日：2021-04-14

公开（公告）日：2021-07-16

公开（公告）号：CN113125476A

主分类号：G01N23/046(20180101)

分类号：G01N23/046(20180101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.11.22#授权;2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开

摘要：本发明涉及一种面阵工业CT散射校正方法，步骤1、使用X射线机对被检测样品进行周向DR扫描，获得I幅第一周向DR图像，并对其进行射束硬化校正，得到I幅第一图像；步骤2、在X射线机出束窗口前放置一块衰减板；并采用与步骤1中相同的扫描工艺对被检测样品进行周向DR扫描，获得I幅第二周向DR图像，并对其进行射束硬化校正，得到I幅第二图像；步骤3、将相同扫描角度的第一图像和第二图像进行散射校正，得到散射校正后的DR数据；步骤4、采用散射校正后的DR数据进行锥束CT重建，得到散射校正后的CT图像。该方法操作简便、衰减板加工要求低、算法步骤少、易于实现，大幅降低了后续工业CT重建后图像的散射伪像。

主权项：1.一种面阵工业CT散射校正方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1、使用X射线机对被检测样品进行周向DR扫描，获得I幅被检测样品的第一周向DR图像，并对I幅被检测样品的第一周向DR图像进行射束硬化校正，得到I幅第一图像；其中，将第i幅第一图像中像素点为x，y的像素值记为Aix，y，i＝1、2...I；步骤2、在X射线机出束窗口前放置一块厚度为S的衰减板，该衰减板采用的材料对应在该X射线能谱下的衰减系数为μS，μS和S之间满足以下关系： 并采用与步骤1中相同的扫描工艺对被检测样品进行周向DR扫描，获得I幅被检测样品的第二周向DR图像，并对I幅被检测样品的第二周向DR图像进行射束硬化校正，得到I幅第二图像，其中，将第i幅第二图像中像素点为x，y的像素值记为Bix，y，i＝1、2...I；Bix，y和Aix，y的扫描角度相同；步骤3、将相同扫描角度的第一图像Aix，y和第二图像Bix，y进行散射校正，得到散射校正后的DR数据Cix，y；其中， 步骤4、采用散射校正后的DR数据Cix，y进行CT重建，得到散射校正后的CT图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国兵器科学研究院宁波分院 一种面阵工业CT散射校正方法

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