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【发明公布】产品测试方法及产品测试平台_立讯电子科技(昆山)有限公司_202110435650.9 

申请/专利权人:立讯电子科技(昆山)有限公司

申请日:2021-04-22

公开(公告)日:2021-07-16

公开(公告)号:CN113124920A

主分类号:G01D21/00(20060101)

分类号:G01D21/00(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开

摘要:本申请公开一种产品测试方法及产品测试平台。产品测试方法包括:通过第一测试治具对多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试,并将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品且移动至第一缓冲盘上;第一缓冲盘承载N个第一缓冲产品时,通过第一测试治具对第一缓冲盘上的每一个第一缓冲产品进行测试,并将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品且移动至第一重置盘上;第一重置盘承载M个第一重置产品时,通过第二测试治具对第一重置盘上的每一个第一重置产品进行测试,并将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域。N和M皆为大于或等于2的整数,第一测试治具和第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具。

主权项:1.一种产品测试方法,其特征在于,包括以下步骤:通过第一测试治具对多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试,并将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品且移动至所述第一测试治具对应的第一缓冲盘上;当所述第一缓冲盘承载N个所述第一缓冲产品时,通过所述第一测试治具对所述第一缓冲盘上的每一个所述第一缓冲产品进行测试,并将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品且移动至所述第一测试治具对应的第一重置盘上,其中,N为大于或等于2的整数;当所述第一重置盘承载M个所述第一重置产品时,通过第二测试治具对所述第一重置盘上的每一个所述第一重置产品进行测试,并将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域,其中,所述第一测试治具和所述第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具,M为大于或等于2的整数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 立讯电子科技(昆山)有限公司 产品测试方法及产品测试平台

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