申请/专利权人:昆山精讯电子技术有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日:2021-04-22
公开(公告)日:2021-07-16
公开(公告)号:CN113120612A
主分类号:B65G47/91(20060101)
分类号:B65G47/91(20060101);B65G49/06(20060101);B65G43/08(20060101);B65G35/00(20060101);G01R31/00(20060101);G01R31/01(20200101)
优先权:
专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回
法律状态:2023.10.27#发明专利申请公布后的驳回;2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开
摘要:本发明公开了一种实现不断电交握的物料传输系统,可应用于电子元器件在不同测试站点的连续通电测试,保留高温老化测试后电子元器件的可能问题,实现真实记录产品缺陷;本发明包括运输装置、测试装置和治具板,在治具板的正面和或背面设有若干组电极触点,在运输装置、测试装置上均设有与电极触点对应的一组或多组供电电极,并通过Bist控制盒精确控制供电电极的通断电切换和时序控制,从而保证电子元器件在运输装置及测试装置间的不断电交握。
主权项:1.一种实现不断电交握的物料传输系统,包括运输装置、测试装置,其特征在于,还包括治具板,用于承载被测元器件组件,所述治具板的正面和或背面设有若干组电极触点,所述运输装置、测试装置上均设有与电极触点对应的若干组供电电极,用于与治具板上的电极触点接触供电。
全文数据:
权利要求:
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