【发明公布】检测组件表面特性的方法、所述方法监测组件表面质量的用途以及调整组件表面特性的设备_汉高股份有限及两合公司_201980082341.9 

申请/专利权人:汉高股份有限及两合公司

申请日:2019-11-29

公开(公告)日:2021-07-23

公开(公告)号:CN113167573A

主分类号:G01B11/30(20060101)

分类号:G01B11/30(20060101);G01J5/00(20060101);G01N25/00(20060101)

优先权:["20181213 EP 18212355.4"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2021.07.23#公开

摘要:本发明涉及用于检测组件表面特性差异的方法,其中在所述组件的特定温度下由所述组件发射的红外辐射在指定接收器表面上在相对于所述组件的至少两个不同方位作为辐射强度进行检测,其中以如下方式进行定位,使得在所述接收器表面的每个方位所述接收器表面上的三个固定点沿着其表面法线与所述组件表面的距离保持基本不变,所检测的辐射强度的方位相关性等同于所述组件的所述表面特性的差异。另一方面,本发明还涉及根据本发明的方法用于监测和任选调整源自制造工艺的组件的表面质量的用途以及用于在组件的系列生产中调整表面特性的设备。

主权项:1.用于检测组件表面特性差异的方法,其中在所述组件的特定温度下由所述组件发射的红外辐射在指定接收器表面上在相对于所述组件的至少两个不同方位作为辐射强度进行检测,其中以如下方式进行定位,使得在所述接收器表面的每个方位所述接收器表面上的三个固定点沿着其表面法线与所述组件表面的距离保持基本不变,所检测的辐射强度的方位相关性等同于所述组件的所述表面特性的差异。

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权利要求:

百度查询: 汉高股份有限及两合公司 检测组件表面特性的方法、所述方法监测组件表面质量的用途以及调整组件表面特性的设备