申请/专利权人：南京英锐创电子科技有限公司

申请日：2021-03-25

公开（公告）日：2021-07-23

公开（公告）号：CN113160875A

主分类号：G11C29/10(20060101)

分类号：G11C29/10(20060101);G11C29/44(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.08.10#实质审查的生效;2021.07.23#公开

摘要：本申请提供一种芯片测试系统和测试方法，该芯片测试系统包括：上位机，用于基于配置信息生成测试指令；协议转换器，一端连接上位机，用于将上位机下发的测试指令转换为预设格式的测试命令；待测芯片，连接协议转换器的另一端，用于接收协议转换器发送的预设格式的测试命令，并执行预设格式的测试命令，获得对待测芯片的测试信息；其中，上位机生成对测试信息的读取指令，并由协议转换器将读取指令转换为预设格式的测试命令后发送给待测芯片，待测芯片执行读取指令，并将读取到的测试信息返回给上位机。本申请不仅可以用于量产的芯片测试，也可以用于测试片的芯片测试，克服了现有技术中芯片测试的局限性。

主权项：1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：上位机，用于基于配置信息生成测试指令；协议转换器，一端连接所述上位机，用于将所述上位机下发的测试指令转换为预设格式的测试命令；待测芯片，连接所述协议转换器的另一端，用于接收所述协议转换器发送的所述预设格式的测试命令，并执行所述预设格式的测试命令，获得对所述待测芯片的测试信息；其中，所述上位机生成对所述测试信息的读取指令，并由所述协议转换器将所述读取指令转换为所述预设格式的所述测试命令后发送给所述待测芯片，所述待测芯片执行所述读取指令，并将读取到的所述测试信息返回给所述上位机。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京英锐创电子科技有限公司 芯片测试系统和测试方法

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