申请/专利权人：上海卫星工程研究所

申请日：2019-08-14

公开（公告）日：2021-08-03

公开（公告）号：CN110554421B

主分类号：G01T1/02(20060101)

分类号：G01T1/02(20060101);G01C21/24(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.08.03#授权;2020.01.03#实质审查的生效;2019.12.10#公开

摘要：本发明提供了一种基于星上敏感器件总剂量损伤的幸存概率、故障影响传递概率和在轨辐射损伤时间T，建立元器件PIT模型，识别在轨卫星的元器件总剂量损伤薄弱点。本发明的星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，以敏感元器件辐照试验数据和在轨辐射损伤时间作为模型输入，通过对星上元器件的损伤故障时间归一化处理，识别卫星元器件抗总剂量损伤的薄弱点，评估总剂量损伤严重程度，可对卫星电子器件总剂量损伤的薄弱点进行抗加设计和改进，满足未来卫星在轨任务需求和提高可靠度。

主权项：1.一种星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，列举卫星上的辐射敏感元器件，判断辐射损伤对辐射敏感元器件的后果及严重程度；步骤2，对同批次辐射敏感元器件进行总剂量辐照测试，获得同批次辐射敏感元器件抗总剂量的辐照测试值，计算得到同批次辐射敏感元器件抗总剂量指标的对数平均值Aaverage和对数标准差σ；步骤3，计算辐射敏感元器件总剂量辐射损伤失效概率Pinvalid；步骤4，计算辐射敏感元器件辐射幸存概率Psurvive；步骤5，确定辐射损伤后对卫星系统级任务有影响的辐射敏感元器件的数量，确定对系统级任务的影响后果；步骤6，确定损伤故障影响传递概率Ptransmit；步骤7，确定辐射敏感元器件辐射损伤导致的系统故障累积时间；步骤8，确定辐射敏感元器件i状态对系统级任务j的贡献度；步骤9，确定辐射敏感元器件i总剂量损伤对系统任务j的评估因子；步骤10，设置总剂量损伤的薄弱阈值PITlimit，进行卫星电离总剂量辐射损伤的薄弱点鉴别；步骤11，总剂量损伤对卫星系统任务j影响程度评估针对的是卫星系统级任务j，通过上述计算出的评估因子值，对其进行从高到低排序，得到典型器件因总剂量损伤对卫星系统任务影响程度的评估因子序列值，即为总剂量损伤对卫星系统任务的影响程度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海卫星工程研究所 星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法

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