申请/专利权人：王程

申请日：2021-06-27

公开（公告）日：2021-09-21

公开（公告）号：CN113421245A

主分类号：G06T7/00(20170101)

分类号：G06T7/00(20170101);G06T7/90(20170101);G06T19/20(20110101);G06T5/00(20060101);G01B11/30(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的撤回

法律状态：2023.12.26#发明专利申请公布后的撤回;2021.10.12#实质审查的生效;2021.09.21#公开

摘要：本发明的用于颜色再现的三维表面粗糙度计算方法，提出一种基于序列图像的的表面粗糙度测量方法：通过光学显微镜拍摄序列图像，对图像进行数字图像处理技术重构图像表面的三维信息，计算三维粗糙度体积参数、高度参数来表征物体微观形态，在现有模糊区域检测方法基础上提出一种新的局部标准差和方差聚焦评估算子相结合的模糊区域鉴别方法，更准确获取序列图像中的清晰部分，在获取序列图像清晰区域基础上修复物体表面微观高度：比二维基于轮廓的粗糙度参数所能表达的信息更加全面和准确，表面粗糙度参数的可靠性和准确性大幅提高，能够精确计算三维粗糙度的表征与高度，能够准确表征物体微观形态。

主权项：1.用于颜色再现的三维表面粗糙度计算方法，其特征在于，包括检测图像模糊区域和计算三维粗糙度的表征与高度：一是获取序列图像后，对图像进行前置处理，包括图像的平滑处理和边缘锐化，为后面提取图像的模糊区域并准确计算三维粗糙度参数打下基础；二是提出一种针对序列图像的结合空间域局部标准差和方差聚焦评估算子的方法对图像的模糊区域进行鉴别并提取；三是在获取序列图像清晰区域基础上修复物体表面微观高度，采用明暗修复三维形态的方法和方差聚焦评估算子最大值高斯插值法计算物体表面的微观高度；四是基于ISO25178-2012中规定的三维表面粗糙度评定标准，选取高度参数来表征样本表面的粗糙度，采用序列图像测量三维表面粗糙度可行，并且三维粗糙度参数包含信息丰富；五是通过对不同表面粗糙度的样品进行完全相同的喷涂呈色浆料工艺后，不同表面粗糙度的样品色密度差异大并且存在规律，即表面粗糙度越大，印刷后色密度就随之越大，超过一定厚度后，不同粗糙度样品的色密度差异不大，表明在一定印刷膜厚下，表面粗糙度的不同直接影响最终的呈色结果；本发明通过物体表面断层序列图像，提取序列图像的模糊区域并计算各序列图像清晰区域像素点的微观高度，用高度参数与体积参数表示三维表面粗糙度，采用超景深成像方法获取序列断层图像，通过序列断层图像中模糊区域的鉴别与提取，得到各个序列图像中的清晰区域，然后分别通过阴暗形态修复物体三维形态法和方差聚焦评估算子最大值高斯插值法获取序列图像的高度信息，进行物体表面微观构造的高度修复，最后采用三维表面形态中规定的高度参数和体积参数表征三维表面粗糙度，其中三维粗糙度高度参数和体积参数分别通过序列图像提取的高度信息计算得到；序列图像中同一图像中的各个像素之间和不同图像同一位置像素之间都具有强关联性，本发明据此通过结合空间域上的局部标准差的模糊鉴别法和方差聚焦评估算子最大值判别聚焦最清晰像素的方法，进行模糊区域检测，得到各序列图像中的清晰区域，获取序列图像的清晰区域后获取物体表面高度，首先通过景深范围内像素灰度的变化计算此范围内像素点的高度，然后采用聚焦评估算子判别序列图像每个像素的聚焦程度，找出聚焦测度算子最大值的像素点，确定此像素点的所在的序列图像，即获知其粗略高度，再采用高斯插值法获取更真实的表面高度，获得物体表面微观高度后，计算三维表面粗糙度高度参数值和体积参数值，用三维表面粗糙度参数来表征表面形态。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 王程 用于颜色再现的三维表面粗糙度计算方法

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