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【发明公布】高精度温度测量方法及测量系统_谢嘉仪_202110720633.X 

申请/专利权人:谢嘉仪

申请日:2021-06-28

公开(公告)日:2021-09-21

公开(公告)号:CN113418635A

主分类号:G01K15/00(20060101)

分类号:G01K15/00(20060101);G01K7/01(20060101);G01K7/22(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.10.12#实质审查的生效;2021.09.21#公开

摘要:本发明公开了高精度温度测量方法及测量系统,高精度温度测量方法包括以下步骤:步骤S1、标定阶段,对温度传感器芯片进行标定测试,采集不同标定温度下温度传感器的输出值形成采样数据,采样数据包含至少两个标定数组,每个标定数组由标准温度测量仪测量的标定温度和温度传感器芯片的输出值构成;步骤S2、实测阶段,获取温度传感器芯片的实际输出值,将采样数据拟合得到温度‑输出值曲线,将实际输出值代入温度‑输出值曲线中计算得到实际温度。本发明通过高精度的温度标定采集得到更准确的采样数据,拟合得到的温度‑输出值曲线更接近温度传感器芯片的真实温度曲线,极大地提高温度测量的精度。

主权项:1.高精度温度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、标定阶段,对温度传感器芯片进行标定测试,采集不同标定温度下温度传感器的输出值形成采样数据,所述采样数据包含至少两个标定数组,每个所述标定数组由标准温度测量仪测量的标定温度和温度传感器芯片的输出值构成;步骤S2、实测阶段,获取所述温度传感器芯片的实际输出值,将所述采样数据拟合得到温度-输出值曲线,将所述实际输出值代入所述温度-输出值曲线中计算得到实际温度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 谢嘉仪 高精度温度测量方法及测量系统

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