申请/专利权人：成都盛芯微科技有限公司

申请日：2021-07-08

公开（公告）日：2021-09-21

公开（公告）号：CN113421606A

主分类号：G11C29/08(20060101)

分类号：G11C29/08(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.10.12#实质审查的生效;2021.09.21#公开

摘要：本发明公开了一种flash检测方法及其检测系统，涉及存储技术领域。该flash检测方法包括以下步骤：S1、检测芯片内部是否包括flash存储器：若否，则进入步骤S5；若是，则进入步骤S2；S2、读取所述flash存储器的存储内容；S3、将所述flash存储器内的存储内容通过预设的计算方法进行计算，并将存储内容计算结果与预存的校验值进行对比；S4、判断所述存储内容计算结果与所述校验值是否相同：若不相同，则进入步骤S5；若相同，则发送检测工作完成标志；S5、接收外部命令进行flash自测：若flash存储器检测出坏块，则标记坏块位置，发送坏块位置和检测工作完成标志；若flash存储器无坏块，则发送检测工作完成标志。本发明的检测方法简单、方便，且不受TAP限速。

主权项：1.一种flash检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、检测芯片内部是否包括flash存储器：若否，则结束检测；若是，则进入步骤S2；S2、读取所述flash存储器的存储内容；S3、将所述flash存储器内的存储内容通过预设的计算方法进行计算，并将存储内容计算结果与预存的校验值进行对比；S4、判断所述存储内容计算结果与所述校验值是否相同：若不相同，则进入步骤S5；若相同，则发送检测工作完成标志；S5、接收外部命令进行flash自测：若flash存储器检测出坏块，则标记坏块位置，发送坏块位置和检测工作完成标志；若flash存储器无坏块，则发送检测工作完成标志。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都盛芯微科技有限公司 flash检测方法及其检测系统

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