申请/专利权人:前海晶云(深圳)存储技术有限公司
申请日:2020-08-24
公开(公告)日:2021-09-21
公开(公告)号:CN214252486U
主分类号:G01R31/28(20060101)
分类号:G01R31/28(20060101);G01R31/00(20060101);G01R1/04(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2021.09.21#授权
摘要:本实用新型公开了一种测试模组和测试机,所述测试模组包括测试探针、测试压头、安装板、测试板和伸缩机构;所述测试探针和所述测试压头固定于所述安装板上;所述测试板与所述安装板相对,用于放置芯片测试模块;所述伸缩机构用于带动所述安装板靠近或远离所述测试板;所述测试压头设有温度转换模块。本实用新型的测试模组和测试机通过设置测试架以及测试模组,在测试压头内设置温度转换模块,实现向对芯片的低温和高温的检测,适应不同芯片的测试需求,适应性强应用广泛。
主权项:1.一种测试模组,其特征在于,所述测试模组包括测试探针、测试压头、安装板、测试板和伸缩机构;所述测试探针和所述测试压头固定于所述安装板上;所述测试板与所述安装板相对,用于放置芯片测试模块;所述伸缩机构用于带动所述安装板靠近或远离所述测试板;所述测试压头设有温度转换模块。
全文数据:
权利要求:
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