申请/专利权人：深圳市轻生活科技有限公司

申请日：2021-08-09

公开（公告）日：2021-10-08

公开（公告）号：CN113333306B

主分类号：B07C5/00(20060101)

分类号：B07C5/00(20060101);B07C5/02(20060101);B07C5/36(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.10.08#授权;2021.09.21#实质审查的生效;2021.09.03#公开

摘要：本发明提出了一种芯片外观不良分拣方法和系统，所述方法包括：检测识别外观不良的芯片，并对所述外观不良芯片上打上不良外观标定识别码；在芯片传输过程中实时扫描每个芯片，确定所述芯片上是否存在不良外观标定识别码；当检测到芯片存在不良外观标定识别码时，控制推送装置将所述带有不良外观标定识别码的芯片推至芯片传送带的外观不良芯片所在传送区域，并对芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置的推送次数进行计数；控制反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测，在复合检测无误后，在外观不良芯片所在传送区域将带有所述芯片存在不良外观标定识别码的芯片尽进行分拣。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。

主权项：1.一种芯片外观不良分拣方法，其特征在于，在芯片传送带的纵向方向的中心位置设置分割线；所述分割线两侧分别为外观不良芯片所在传送区域和外观良好芯片所在传送区域；并且，外观良好芯片所在传送区域一侧设有多个沿芯片传送带设置的推送装置；所述外观不良芯片所在传送区域一侧设有多个沿芯片传送带设置的反推装置，所述分拣方法包括：检测识别外观不良的芯片，并对所述外观不良芯片上打上不良外观标定识别码，同时，对打上不良外观标定识别码的次数进行计数；在芯片传输过程中实时扫描每个芯片，确定所述芯片上是否存在不良外观标定识别码；当检测到所述芯片存在不良外观标定识别码时，控制推送装置将带有不良外观标定识别码的芯片推至所述芯片传送带的外观不良芯片所在传送区域，并对所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置的推送次数进行计数；控制所述反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测，在复合检测无误后，在所述外观不良芯片所在传送区域将带有所述芯片存在不良外观标定识别码的芯片进行分拣。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市轻生活科技有限公司 一种芯片外观不良分拣方法和系统

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