申请/专利权人：迈来芯科技有限公司

申请日：2021-03-19

公开（公告）日：2021-10-12

公开（公告）号：CN113494934A

主分类号：G01D18/00(20060101)

分类号：G01D18/00(20060101)

优先权：["20200320 EP 20164463.0"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.03.17#实质审查的生效;2021.10.12#公开

摘要：一种用于诊断光学传感器的方法100，该光学传感器包括光电探测器和积分器。该方法包括：将光电探测器暴露于110入射光；在初始帧处获得120初始积分信号；执行以下步骤至少一次：改变130光学传感器的至少一个控制参数，将光电探测器暴露于110入射光，并在后续帧处获得140一个或多个后续积分信号；从所获得的积分信号中获得150光学传感器的特性；将所获得的特性与光学传感器的预定特性进行比较160以诊断光学传感器。

主权项：1.一种用于诊断光学传感器的方法100，所述光学传感器包括光电探测器和积分器，所述方法包括：将所述光电探测器暴露于110入射光，在初始帧处获得120初始积分信号，执行以下步骤至少一次：改变130所述光学传感器的至少一个控制参数，将所述光电探测器暴露于110入射光，并在后续帧处获得140一个或多个后续积分信号，其中，逐帧获得积分信号，并且帧包括重置所述光学传感器、并在积分时间内累积来自连接所述光电探测器与所述积分器的电路的信号、并且读取所述积分信号的至少一个序列，从所获得的积分信号中获得150所述光学传感器的特性，将所获得的特性与所述光学传感器的预定特性进行比较160，其中，所述预定特性是根据至少一个控制参数来定义的，以诊断所述光学传感器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 迈来芯科技有限公司 光学传感器诊断

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