申请/专利权人:罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请日:2021-04-14
公开(公告)日:2021-11-19
公开(公告)号:CN113671341A
主分类号:G01R31/28(20060101)
分类号:G01R31/28(20060101)
优先权:["20200513 EP 20174513.0"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2023.04.18#实质审查的生效;2021.11.19#公开
摘要:本发明涉及一种通过使用天线阵列对被测设备进行测量的方法,包括:提供包括多个天线元件的天线阵列,提供被配置为空中通信的测试设备,将被测设备定位在第一测试位置,在被测设备与天线阵列之间建立第一相对距离,当被测设备与天线阵列之间具有所述第一相对距离时,进行第一空中测量,从而得到第一测量结果,移动天线阵列和或被测设备,在被测设备和天线阵列之间建立第二相对距离,以及当被测设备与天线阵列之间具有第二相对距离时,进行第二空中测量,从而得到第二测量结果,其中建立被测设备位于其中的静区,并且其中静区的尺寸是从第一测量结果和第二测量结果相关联的至少两个传递函数的组合得出的。此外,还描述一种测量系统。
主权项:1.一种通过使用天线阵列16对被测设备12进行测量的方法,所述方法包括以下步骤:提供包括多个天线元件18的天线阵列16,提供被配置为空中通信的测试设备12,将所述被测设备12定位在第一测试位置,从而在所述被测设备12与所述天线阵列16之间建立第一相对距离,当所述被测设备12与所述天线阵列16之间具有所述第一相对距离时,进行第一空中测量,从而得到第一测量结果,移动所述天线阵列16和或所述被测设备12,从而在所述被测设备12与所述天线阵列16之间建立第二相对距离,以及当所述被测设备12与所述天线阵列16之间具有所述第二相对距离时,进行第二空中测量,从而得到第二测量结果,其中建立所述被测设备12位于其中的静区,并且其中所述静区的尺寸是从所述第一测量结果和所述第二测量结果相关联的至少两个传递函数的组合得出的。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 罗德施瓦兹两合股份有限公司 对被测设备进行测量的方法
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