申请/专利权人：瑞芯微电子股份有限公司

申请日：2021-09-23

公开（公告）日：2022-01-21

公开（公告）号：CN113960443A

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.02.15#实质审查的生效;2022.01.21#公开

摘要：本发明公开了一种IO静态参数测试方法及系统，选择电源通道，通过引线连接电源通道和待测芯片的待测IO口，并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表，因此仅需为每个芯片配置IO配置文件即可实现IO测试；控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试，根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态，并将测试项所需的供电数据发送至电源通道，从而为待测芯片供电，并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每个待测IO口在每个测试项中的静态参数，相较于现有技术中的专用IO测试机，仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容，开发成本低且提高了静态参数的测试效率。

主权项：1.一种IO静态参数测试方法，其特征在于，包括步骤：选择电源通道，通过引线连接所述电源通道和待测芯片的待测IO口，并配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表；控制IO测试板对所述待测IO口依次进行预设测试，根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态，并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道；通过所述电源通道和所述供电数据为所述待测芯片供电，根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 瑞芯微电子股份有限公司 一种IO静态参数测试方法及系统

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